Uit de rij gehaald op het vliegveld. Is dit etnisch profileren?

Author(s):
Leun, J.P. van der (0000-0002-6716-8540); Woude, M.A.H. van der (0000-0003-1165-9233)
Published
2017
Publication type
Article / Letter to editor
Date issued
2017
Language
Dutch
Is part of
Asiel & Migrantenrecht (2017), Vol. 2017, no. 6/7, p. 311-314
hdl
1887/69894