Development and operation status of X-Ray Imaging and Spectroscopy Mission (XRISM)
- Author(s):
- Tashiro, M.; Watanabe, S.; Maejima, H.; Toda, K.; Matsushita, K.; Yamaguchi, H.; Kelley, R.; Reichenthal, L.; Hartz, L.; Petre, R.; Williams, B.; Guainazzi, M.; Santovincenzo, A.; Costantini, E.; Takei, Y.; Ishisaki, Y.; Fujimoto, R.; Henegar-Leon, J.; Sneiderman, G.; Tomida, H.; Mori, K.; Nakajima, H.; Terada, Y.; Holland, M.; Loewenstein, M.; Kallman, T.; Kaastra, J.S. (0000-0001-5540-2822); Miller, E.; Sawada, M.; Done, C.; Enoto, T.; Bamba, A.; Plucinsky, P.; Ueda, Y.; Kara, E.; Zhuravleva, I.; Fujita, Y.; Querro, J.A.; Arai, Y.; Audard, M.; Awaki, H.; Baluta, C.; Bando, N.; Behar, E.; Bialas, T.; Boissay-Malaquin, R.; Brenneman, L.; Brown, G.V.; Chiao, M.; Corrales, L.; Cumbee, R.; Vries, C. de; den Herder, J.-W.; Diaz-Trigo, M.; DiPirro, M.; Dotani, T.; Ebrero Carrero, J.; Ebisawa, K.; Eckart, M.; Eckart, D.; Eguchi, S.; Ezoe, Y.; Ferrigno, C.; Foster, A.; Fukazawa, Y.; Fukushima, K.; Furuzawa, A.; Gallo, L.; Gorter, N.; Grim, M.; Gu, L.; Hagino, K.; Hamaguchi, K.; Hatsukade, I.; Hayashi, K.; Hayashi, T.; Hell, N.; Hodges-Kluck, E.; Horiuchi, T.; Hornschemeier, A.; Hoshino, A.; Ichinohe, Y.; Ikuta, C.; Iizuka, R.; Ishi, D.; Ishida, M.; Ishihama, N.; Ishikawa, K.; Ishimura, K.; Jaffe, T.; Katsuda, S.; Kanemaru, Y.; Kenyon, S.; Kilbourne, C.; Kimball, M.; Kitamoto, S.; Kobayashi, S.; Kobayashi, A.; Kohmura, T.; Kubota, A.; Leutenegger, M.; Li, M.; Maeda, Y.; Markevitch, M.; Matsumoto, H.; Matsuzaki, K.; McCammon, D.; McLaughlin, B.; McNamara, B.; Miko, J.; Miller, J.; Minesugi, K.; Mitani, S.; Mitsuishi, I.; Mizumoto, M.; Mizuno, T.; Mukai, K.; Murakami, H.; Mushotzky, R.; Nakazawa, K.; Natsukari, C.; Ness, J.-U.; Nigo, K.; Nishiyama, M.; Nobukawa, K.; Nobukawa, M.; Noda, H.; Odaka, H.; Ogawa, M.; Ogawa, S.; Okajima, T.; Okamoto, A.; Ota, N.; Ozaki, M.; Paltani, S.; Porter, F.S.; Pottschmidt, K.; Sasaki, T.; Sato, K.; Sato, R.; Sato, T.; Sato, Y.; Seta, H.; Shida, M.; Shidatsu, M.; Shigeto, S.; Shipman, R.; Shinozaki, K.; Shirron, P.; Simionescu, A.; Smith, R.; Soong, Y.; Suzuki, H.; Szymkowiak, A.; Takahashi, H.; Takeo, M.; Tamagawa, T.; Tamura, K.; Tanaka, T.; Tanimoto, A.; Terashima, Y.; Tsuboi, Y.; Tsujimoto, M.; Tsunemi, H.; Tsuru, T.; Uchida, H.; Uchida, N.; Uchida, Y.; Uchiyama, H.; Uno, S.; Van der Meer, E.; Vink, J.; Wittheof, M.; Wolfs, R.; Yamada, S.; Yamaoka, K.; Yamasaki, N.; Yamauchi, M.; Yamauchi, S.; Yanagase, K.; Yaqoob, T.; Yasuda, S.; Yoneyama, T.; Yoshida, T.
- Editor(s):
- Herder J.A. den; Nikzad, S.
- Published
- 2024
- Publication type
- Article in monograph or in proceedings
- Date issued
- 2024
- Language
- English
- Is part of
- Proceedings of SPIE (2024), Pt. 13093, p. 130931G
- hdl
- 1887/4254670
- doi
- 10.1117/12.3019325
- URL
- https://ui.adsabs.harvard.edu/abs/2024SPIE13093E..1GT
Review of
- Series
- Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series