The Line Emission Mapper (LEM) probe mission concept
- Author(s):
- Kraft, R.; Bogdán, Á.; ZuHone, J.; Adams, J.S.; Alvarado-Gómez, J.D.; Argiroffi, C.; Ayromlou, M.; Azadi, M.; Bandler, S.R.; Barbera, M.; Bhardwaj, A.; Biffi, V.; Bodewits, D.; Boettcher, E.; Branham, B.; Burchett, J.N.; Burke, D.J.; Cann, J.; Carter, J.A.; Castro, D.; Chakraborty, P.; Chan, K.W.; Chen, S.; Churazov, E.; Coderre, K.; Corcoran, M.F.; Cumbee, R.S.; DePalo, S.V.; Dolag, K.; Donahue, M.; Doriese, W.B.; Drake, J.J.; Dunn, W.; Eckart, M.E.; Eckert, D.; Ettori, S.; Ezoe, Y.; Feldman, C.H.; Flaccomio, E.; Forman, W.R.; Galeazzi, M.; Gall, A.C.; Garraffo, C.; Gonzalez, M.; Grosso, N.; Hartley, J.; Hell, N.; Hernquist, L.; Hodges-Kluck, E.; Houston, J.; Hull, S.V.; Islam, N.; Janas, P.M.; Jennings, F.J.; Jones, C.; Kaaret, P.; Kanner, H.; Karovska, M.; Kashyap, V.; Kavanagh, P.J.; Kelley, R.L.; Khabibullin, I.; Kilbourne, C.A.; Kim, C.-G.; Koutroumpa, D.; Kovács, O.E.; Kuntz, K.D.; Lee, S.-H.; Leutenegger, M.A.; Linn, T.; Lotti, S.; Markevitch, M.; Martin, K.; May, L.; McCammon, D.; McEntee, S.C.; Mei, S.; Mernier, F.; Miceli, M.; Miller, J.B.; Mirakhor, M.S.; Monsch, K.; Nazé, Y.; Nelson, D.; Nordt, A.A.; Ogorzalek, A.; Olson, J.; Orlando, S.; Osborne, E.; Oskinova, L.M.; Patnaude, D.; Pfeifle, R.W.; Pinto, C.; Plucinsky, P.; Ponti, G.; Porquet, D.; Porter, F.S.; Préle, D.; Ramm, S.; Randall, S.W.; Rasia, E.; Rau, M.M.; Richardson, S.; Sakai, K.S.; Sarkar, A.; Schellenberger, G.; Sciortino, S.; Schaye, J. (0000-0002-0668-5560); Simionescu, A.; Smith, S.J.; Sobolewska, M.; Steiner, J.F.; Stern, J.; Su, Y.; Sun, M.; Truong, N.; Ursino, E.; Valentini, M.; Veilleux, S.; Vladutescu-Zopp, S.; Vogelsberger, M.; Wakeham, N.A.; Walker, S.A.; Wang, Q.D.; Wargelin, B.; Weaver, K.A.; Werk, J.K.; Werner, N.; Wolk, S.J.; Zhang, C.; Zhang, W.W.; Zhuravleva, I.
- Editor(s):
- den Herder, J.A.; Nikzad, S.; Nakazawa, K.
- Published
- 2024
- Publication type
- Article in monograph or in proceedings
- Date issued
- 2024-08-21
- Language
- English
- Publisher
- Yokohoma: SPIE Press
- Is part of
- Proceedings of SPIE (2024), Pt. 13093, p. 1309327
- hdl
- 1887/4251810
- doi
- 10.1117/12.3019969
- URL
- https://ui.adsabs.harvard.edu/abs/2024SPIE13093E..27K
Review of
- Series
- Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series