Constraining the reflective properties of WASP-178 b using CHEOPS photometry

Author(s):: Pagano, I.; Scandariato, G.; Singh, V.; Lendl, M.; Queloz, D.; Simon, A.E.; Sousa, S.G.; Brandeker, A.; Cameron, A.C.; Sulis, S.; Van Grootel, V.; Wilson, T.G.; Alibert, Y.; Alonso, R.; Anglada, G.; Bárczy, T.; Navascues, D.B.; Barros, S.C.C.; Baumjohann, W.; Beck, M.; Beck, T.; Benz, W.; Billot, N.; Bonfils, X.; Borsato, L.; Broeg, C.; Bruno, G.; Carone, L.; Charnoz, S.; Corral van Damme, C.; Csizmadia, S.; Cubillos, P.E.; Davies, M.B.; Deleuil, M.; Deline, A.; Delrez, L.; Demangeon, O.D.S.; Demory, B.-O.; Ehrenreich, D.; Erikson, A.; Fortier, A.; Fossati, L.; Fridlund, C.W.M. (0000-0002-0855-8426); Gandolfi, D.; Gillon, M.; Güdel, M.; Günther, M.N.; Helling, C.; Hoyer, S.; Isaak, K.G.; Kiss, L.L.; Kopp, E.; Lam, K.W.F.; Laskar, J.; Lecavelier des Etangs, A.; Magrin, D.; Maxted, P.F.L.; Mordasini, C.; Munari, M.; Nascimbeni, V.; Olofsson, G.; Ottensamer, R.; Pallé, E.; Peter, G.; Piotto, G.; Pollacco, D.; Ragazzoni, R.; Rando, N.; Rauer, H.; Reimers, C.; Ribas, I.; Rieder, M.; Santos, N.C.; Ségransan, D.; Smith, A.M.S.; Stalport, M.; Steller, M.; Szabó, G.M.; Thomas, N.; Udry, S.; Venturini, J.; Walton, N.A.